对于以上这样的情景，可能一部分的小伙伴并不陌生（暴露年龄）。电视刚刚开始走进千家万户时，屏幕也就成为了我们对显示技术直观的认识。尺寸大小和“黑白”、“彩色”也作为对其常见的描述而挂于口上。
那时，人们所熟知的显示屏幕大部分都是依靠的显像管技术，而后随着液晶（LCD）、等离子体（PDP）等显示技术的发展，从清晰度、节能、尺寸等各个方面，我们对显示屏的认知都不断地在发生着变化。
你还记得这样的屏幕吗？
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近些年，各种新颖的概念更是层出不穷，比如说被各大手机厂商炒得火热的可以“弯弯扭扭”的“柔性屏”等等。而这些新的变化，也都有源于新的显示技术——电致发光。
可以“弯弯扭扭”的神奇柔性屏
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什么是电致发光？
电致发光（Electroluminescent，简称EL），是通过加在两电ji的电压产生电场，被电场激发的电子碰击发光Center，而引致电子在能级间的跃迁、变化、复合导致发光的一种物理现象。
除了刚刚提到的可弯曲这一引人目光的特点外，电致发光产品主要还具有发光效率高、器件寿命长、响应速度快、视角特性好、色彩度强、造价低等特点。这也使它在显示器和照明领域有着非常广阔的应用前景。
决定电致发光产品性能是否优良的，就是电致发光器件了。我们常说到的OLED、QLED都属于这类器件。它们主要包括五层结构：阴极、电子传递层、发光层、空穴传递层和阳极。其中发光层的材料称为电致发光材料，OLED器件的发光层为有机分子材料，QLED器件的发光层为量子点材料。
电致发光器件结构示意
电致发光器件结构示意
电致发光器件好不好？先看看EQE吧！
想要产品化，光致发光器件的性能就应该满足应用的需求。那该如何知道呢？一般来讲，我们会关注以下几个关键参数表征：
| 1、外量子效率（EQE） |
| 2、电流-电压-亮度（IVL）参数 |
| 3、发射光谱色度 |
| 4、器件荧光寿命 |
由于是决定器件封装以后光效的重要参数之一，也是决定电致发光器件是否能够商业化的重要参数之一。外量子效率（EQE）受到了更多的关注。
无论对于显示器还是照明，从电能转化为光能的发光效率都非常重要，其主要反映了输入功率的利用率。发光效率越高，器件的热损耗越小，能量利用率越高。在电致发光器件的研究中，对应的参数则为外量子效率（EQE，External Quantum Efficiency）。
当发光器件通电时，电子和空穴会在发光层结合，产生的能量会激发发光层材料发出荧光/磷光，所谓器件的EQE，就是此时把单位时间内出射到空间的光子数/单位时间内注入到发光层的电子数之比。
EQE的测量中，核心是分子部分“单位时间内出射到空间的光子数”的测量。现在高精度的测量方法主要有两种：
| 1、光分布法 |
| 2、积分球法 |
光分布法
之前许多用户可能会采用通过亮度计测量法线方向的亮度，以及通过标准朗伯体分布理论计算得到器件的EQE值。这是比较常见的、传统的测量方式，但其实存在很大的缺陷。
由于实际中器件的朗伯体分布并非标准的余弦分布，会有部分分布不均的现象，此时通过理论计算的结果会非常不准确。而光分布法就可以解决这个问题，下图便是很好的说明：
光分布法测试值（实心点）与朗伯体预测值（空心点）的区别（H. Fujimoto, et.al,Appl. Phys. Exp., 8(2015), 082102）
相对于传统的方法，光分布法可以更准确的检测出发光器件的实际亮度分布。该实验中，研究者使用光分布测试系统（滨松C9920-11）通过转动电动转台，以1°的角步长描绘出器件的实际朗伯体分布，并且计算出EQE实际值（实心点）与理论值（空心点）之间的校准系数，更加准确地计算EQE。
当然，滨松光分布测试系统也为该实验中带去了全测量过程的自动化，这也大大减少了由于调节角度引起的结果不稳定性和操作复杂性。
积分球法
还有一种EQE的测量方法是通过积分球配件，将器件的整体光通量收集，并通过计算得到器件的EQE。该方法又有两种测量方案，一种是将器件至于积分球球壁上，仅测量器件的前向通量，称为2π法；一种是将器件置于积分球内部，测量器件的整体通量，称为4π法。
------------- 前方硬广预警 -------------
是的，滨松C9920-12外量子效率测试系统都能支持该两种测量方案。并可以实现更便捷的操作，以及更高的测量精度。
积分球法EQE测试结果实例：四种颜色的OLED电致发光器件（H. nakanotani, et.al,Nat. Comm., 5(2014), 4016）
# 操作简便：定制化夹具
在实际中，同一实验室/用户的电致发光器件一般采用同一种封装外形，以及具有同样的电极分布。为了简化样品夹持的方式，便捷使用，我们提供样品夹具支持的定制化服务，避免了鳄鱼钳使用中的不稳定和不方便。
标准夹具与定制夹具
# 精准测量：基底反射补偿配件
积分球法简单快捷有效，但是器件本身的基底反射对于积分球的工作会有一定的影响。
滨松C9920-12外量子效率测试系统可以提供对应的补偿配件，在器件未通电发光时给与一个已知强度的光照并测量，得到测量结果与已知强度的比值，由于器件本身的基底反射，此比值一般小于1；在对器件通电测量时，这个比值就能够被用来对测量结果进行校正，得到电致发光器件的发光强度，继而计算出准确的EQE数值。
不光是EQE
IVL也能进行一体化、自动化的测量
除了可以实现对EQE测量外，针对电致发光器件的另一个重要性能电流-电压-亮度（IVL），滨松的电致发光器件测量系统C9920-11/12也可以提供一体化、自动化测量方案。
电流参数（电流、电流密度等）随电压参数的变化曲线反映了器件的电学性质。亮度随电压参数的变化曲线反映了器件的光学性质。这类电学和光学参数之间的关系统称为IVL（电流-电压-亮度）关系，对于电致发光器件也非常重要。
通常情况下，IVL关系的测量需要多套电学测量系统和光学测量系统分别测量，测量全部的参数非常繁琐。通过软件整合电流源和光谱探测器的功能，C9920-11/12可以测量电流、电流密度、电压、电流效率、功率效率、发射光谱、色度等一系列参数，并且逐一对应，形成关系曲线，将测量操作化繁为简。
IVL关系测量的软件界面示例
实际上，滨松不仅只针对电致发光器件提供了C9920-11/12测量系统，所有产品基本上可覆盖器件与材料的研究需求。而且，针对上游的电致发光材料研究（如OLED，量子点，荧光粉材料等）也提供有Quantaurus-QY（C9920-02）量子效率测试系统。而这三套系统共用同一个核心的探测器部件，也大大降低了未来功能及系统升级的成本。
睿光科技是滨松公司光谱类产品在北方地区的指定合作伙伴，负责市场推广、销售及售后服务等业务。
